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數字式四探針測試計
產品型號：SX1934B型數字式四探針測試計             產品說明         SX1934B型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上特製的四探針測試夾具，還可以對金屬導體的低、中值電阻進行測量，適用於半導體、太陽能行業的篩選。           產品特點         儀器由主機、測試探頭（可選配測試台）等部分組成，測試結果由數字表頭直接顯示。主機主要由數控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式單片機係統組成，自動轉換量程。測試探頭高分子材料和高耐磨碳化鎢探針製成，故定位準確、遊移率小、壽命長。儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。(自動調零)                         詳細參數       型號 SX1934B 測量範圍 電阻率：10-2～102Ω-cm；方塊電阻：10-1～103Ω/□；電阻：10-3～9999Ω 可測半導體材料尺寸 直徑：Φ15～100mm； 長（或高）度： ≤400mm 電源 功 耗：<1W； 電源適配器：輸入:220V±10% 50Hz； 輸出:DC5V±10% 外形尺寸 主機 170mm（D）×130 mm（W）×50mm（H）